![]() 全新發(fā)布:開(kāi)啟非接觸式動(dòng)態(tài)測(cè)量新時(shí)代 在智能制造與工業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型的時(shí)代背景下,蔡司工業(yè)質(zhì)量解決方案重磅推出新款ZEISS ARAMIS 1三維應(yīng)變光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),以非接觸式全場(chǎng)測(cè)量、亞像素級(jí)精度和智能參數(shù)化軟件,為材料表征、部件測(cè)試及運(yùn)動(dòng)分析提供一體化解決方案,助力航空航天、汽車(chē)制造、電子工程及醫(yī)療技術(shù)等行業(yè)的工業(yè)研發(fā)與質(zhì)量管控邁向新高度。
升級(jí)傳統(tǒng)檢測(cè)體驗(yàn) 全能測(cè)量,一機(jī)覆蓋 一體化傳感器集成三維坐標(biāo)、應(yīng)變、位移、速度、加速度及6自由度(6DoF)分析,支持從靜態(tài)載荷到高速動(dòng)態(tài)測(cè)試的全場(chǎng)景應(yīng)用。 全場(chǎng)測(cè)量技術(shù)不受制于傳統(tǒng)應(yīng)變片局限,單次捕捉數(shù)千個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),精準(zhǔn)解析如頸縮等非線(xiàn)性變形行為。
非接觸式、高精度與靈活性 減少對(duì)樣品的物理干擾,同時(shí)在應(yīng)變和位移的測(cè)量范圍上表現(xiàn)更出色。 能夠以亞像素精度圖像處理,檢測(cè)變形和位移。將測(cè)量頭標(biāo)定數(shù)學(xué)模型、采集的測(cè)量數(shù)據(jù)和三角測(cè)量法相結(jié)合,獲得高精度的三維坐標(biāo)。 可對(duì)小到幾毫米級(jí)的小型試樣,大到幾米的大型部件進(jìn)行測(cè)量,適用于不同材料、幾何形狀和物體尺寸的測(cè)試,不受試樣溫度限制。 智能軟件賦能 配備ZEISS CORRELATE軟件,可在測(cè)試過(guò)程中提供支持,無(wú)縫對(duì)接測(cè)量數(shù)據(jù)流、分析和測(cè)量報(bào)告。 只需點(diǎn)擊幾下,即可更新測(cè)量報(bào)告和測(cè)量結(jié)果。輕松創(chuàng)建、追蹤和調(diào)整對(duì)齊方式及參考系統(tǒng)。項(xiàng)目模板可保存檢測(cè)步驟,并加快對(duì)測(cè)試系列的評(píng)價(jià)和記錄。
靈活擴(kuò)展,穩(wěn)健可靠 如果除了全場(chǎng)測(cè)量外,還需要進(jìn)行三維接觸式測(cè)量,則需要使用接觸式探針。它由ARAMIS系統(tǒng)進(jìn)行光學(xué)跟蹤,解決隱蔽區(qū)域測(cè)量難題。 |